设计1:静电吸盘的结构
常规静电吸盘的实物图可以如图1左所示,区别在于静电吸盘表面的绝缘层材料不同,深色为氮化铝,白色为氧化铝,静电吸盘的结构可以参考图1右,分为以下部分:
图1
设计2:利用直流电压产生电场使晶圆电荷极化,吸附晶圆
静电吸盘的电极设计可以分为两种(如图2所示),一是单电极,即整个铺满于静电吸盘,二是双电极,正电压和负电压形成的电场来吸附晶圆,想比单电极,双电极具有更高的吸附力,以及更均匀的电场强度,使晶圆紧密且均匀的吸附。那么电极是如何吸附晶圆的,其原理可以参考如下:
图2
当直流电源施加电压于静电吸盘的电极时,电极之间形成电场。这个电场在绝缘层和陶瓷吸附表面之间传播,并延伸到晶圆背面。电场会导致晶圆表面的电荷重新分布或极化,如果是掺杂的硅晶圆,自由电荷在电场的作用下移动,正电荷向负极移动,负电荷向正极移动,如果是未掺杂的或者绝缘晶圆,电场引起分子内电荷的微小位移,形成电偶极子。最终,在静电力的作用下,将晶圆牢固的吸附在吸盘上,静电吸附力的大小可以通过库仑定律和电场强度来近似计算。假设晶圆和吸盘间的电场是均匀的,静电力 F可以表示为:
其中, ϵ0是真空电容率(8.85×10-12 F/m),ϵr 是介电常数取决于绝缘层材料,E 是电场强度,等于施加电压V除以绝缘层厚度d :,A是电极的有效面积。
设计3:使用He气作为背冷气体,并通过稳定气压下He气的流量反应晶圆的散热情况
1. 为什么选择He气而不是其他气体?
2. 如何反应晶圆的散热情况?
He气在静电吸盘和晶圆背面的流通可以分为两个部分(如图3),一部分通过静电吸盘表面层下的微流道流动(不直接接触晶圆)且循环流通,用于增强散热和控制ESC的气压,第二部分通过顶针孔或者静电吸盘表面的孔流动至晶圆背面,用于晶圆的散热以及晶圆吸附情况的反馈。通过二者的共同作用,最终实现在气压一定的条件下通入He气,如果He气流量稳定,则说明晶圆的吸附情况良好,如果He流量远高于正常值,则说明晶圆背面的透气孔有明显的泄露,对应晶圆未平整吸附与吸盘表面,进一步影响刻蚀。
图3
END
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